明日を拓く光MEMSスキャナ
ISO9001
受注プロセス

スキャナデバイス検査

ポリゴンミラー検査システム

ポリゴンミラー検査システム

ポリゴンミラーの性能評価装置。面倒れ、面分割、反射率

お問合せ

ポリゴンミラー総合計測システム

面数4~12面
面倒れ分解能1秒以下
面分割分解能1秒以下
反射率波長780,635nm、P/S/R偏光
傷、汚れCCD画像センサ
回転ステージ静圧エアーベアリング
ポリゴンスキャナ検査システム

ポリゴンスキャナ検査システム

ポリゴンミラーの性能評価装置。面倒れ、面分割、反射率

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ポリゴンスキャナ総合計測システム

測定回転数50,000rpm以下
面数4~12面
面倒れ測定範囲3mm
分解能1秒以下
ジッタ測定0.0001%
電流測定起動電流、定常電流
LSU検査システム

LSU検査システム

レーザスキャンユニットのジッタ、ウォブル、ビーム径、レーザパワーの検査装置

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LSU総合計測システム

測定ビーム径40~1000μm
測定光出力0.1~5mW
測定回転数50,000rpm以下
ピッチエラー3mm
ジッタ測定0.0001%

f-θレンズ外観検査システム

f-θレンズの外観検査システムは傷、汚れ、異物、気泡、や成形上の脈理などの検査。
熟練工による目視検査を自動化。検査工程のコストダウンと検査品質の安定化。

お問合せ

f-θレンズ外観検査システム 【ALT-9A19】

検査対象傷、異物、気泡、汚れ、脈理
対象f-θレンズA4用f-θレンズ(同等品)
検査分解能30μm
最大検査範囲115mm×4mm
標準検査範囲100mm×2mm(0.1mmピッチ)
標準検査時間約10秒
使用周囲温度10~40℃

ビームアライメントシステム

レーザービーム位置及び方向をアライメントできます。現場での作業も可能。

カタログ
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ビームアライメントシステム 【ALT-9720】

測定範囲X、Y方向1.5mm
測定分解能0.3μm
許容ビーム径0.2~1.5mm
測定波長400~1000μm
受光パワー0.05mW~50mW

スキャナ応用製品検査評価システム

レーザースキャンデバイス応用製品の検査評価装置

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TDCユニット

TDCユニット

分解能82psで16チャンネル(最大22ch)入力の任意に設定されたインターバル時間を連続100万回測定

カタログ
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TIAユニット  【ALT-9C15】

測定分解能81ps
内部ジッタ300ps以下
測定範囲30ns~655ms
最少パルス幅30ns
最大計測データ数1,048,576データ

ビームディテクトユニット

スキャンビームのタイミング検出センサユニット

カタログ
お問合せ
センサ2分割フォトIC
受光エリア2.4mm
出力正論理 50オームドライバ BNC端子
受光パワー1mW±50%
電源DC5V 100mA以下
センサ移動範囲±5mm